基本資料
・適用於從民生用品到航太工業等級的各項電子精密產品。
・檢驗的等級分為標準、商業用、及特製品三類。
・每批次均進行隨機取樣，進行物理及電學檢驗。並對每一件產品進行外觀檢驗。
A型單層陶瓷電容 (ClassⅠ, ClassⅡ)
B型單層陶瓷電容 (ClassⅠ, ClassⅡ)
C型單層陶瓷電容 (ClassⅠ, ClassⅡ)
長方形電容
陣列電容
雙極電容
| 檢驗項目 | 檢驗數量 | |
| 外觀檢驗 | 外觀檢驗 | Inspection Lot AQL II(1.0％) |
| 電氣特性 | 靜電容量 | Inspection Lot AQL II(1.0％) |
| 導電耗散率 | Inspection Lot AQL II(1.0％) | |
| 絕緣阻抗 | 10 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures | |
| 絕緣阻抗 | 10 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures | |
| 物理性質 | 焊線拉力測試 | 3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures |
| 耐熱 | 400 °C For 5 min | 5 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures |
| 尺寸 | 尺寸測量 | 3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures |
A型單層陶瓷電容 (Class Ⅳ)
B型單層陶瓷電容 (Class Ⅳ)
多連結電容
| 檢驗項目 | 檢驗數量 | |
| 外觀 | 外觀檢驗 | Inspection Lot AQL II(1.0％) |
| 電氣特性 | 靜電容量 | Inspection Lot AQL II(1.0％) |
| 導電耗散率 | Inspection Lot AQL II(1.0％) | |
| 絕緣阻抗 | Inspection Lot AQL Ⅰ(0.15%) | |
| 物理性質 | 焊線拉力測試 | 3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures |
| 尺寸 | 尺寸測量 | 3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures |
IRC 一體化電容電阻
| 檢驗項目 | 檢驗數量 | 容錯率 | |
| 外觀 | 外觀檢驗 | Inspection Lot AQL II(1.0％) | Inspection Lot AQL II(1.0％) |
| 電氣特性 | 静電容量 | Inspection Lot AQL II(1.0％) | Inspection Lot AQL II(1.0％) |
| 導電耗散率 | Inspection Lot AQL II(1.0％) | Inspection Lot AQL II(1.0％) | |
| 絕緣阻抗 | Inspection Lot AQL Ⅰ(0.15%) | Inspection Lot AQL Ⅰ(0.15%) | |
| 電阻值 | Inspection Lot AQL I(1.5%) | Inspection Lot AQL I(1.5%) | |
| 物理性質 | 焊線拉力測試 | 3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures | 0 |
| 耐熱 | 320 °C For 5 min. | 3 pcs per Wafer Lot | 0 |
| 尺寸 | 尺寸測量 | 3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures | 0 |
薄膜晶片電阻
| 檢驗項目 | 檢驗數量 | 容錯率 | |
| 外觀檢驗 | Inspection Lot AQL II(1.0％) | Inspection Lot AQL II(1.0％) | |
| 電氣特性 | 電阻值 | Inspection Lot AQL I(1.5%) | Inspection Lot AQL I(1.5%) |
| 物理性質 | 焊線拉力測試 | 3 pcs per Wafer Lot | 0 |
| 耐熱 | 320 °C For 5 min. | 3 pcs per Wafer Lot | 0 |
| 尺寸 | 尺寸測量 | 3 pcs per Wafer Lot | 0 |
Ground Block
| 檢驗項目 | 檢驗數量 | 容錯率 | |
| 外觀檢驗 | Inspection Lot AQL II(1.0％) | Inspection Lot AQL II(1.0％) | |
| 物理性質 | 焊線拉力測試 | 3 pcs per Wafer Lot | 0 |
| 耐熱 | 400 °C For 5 min | 3 pcs per Wafer Lot | 0 |
| 尺寸 | 尺寸測量 | 3 pcs per Wafer Lot | 0 |
*其他檢驗會因產品設計而有所不同，若有需求請與我們聯絡。
| MIL-PRF-38534, Table C-Ⅲ-1, Class H |
| 項目 | 測試條件 | ||||||
| 溫度循環測試 | MIL-STD-883 / Method 1010 Cond. A / B / C | ||||||
| 冷熱衝擊實驗 | MIL-STD-202 / Method 107 Cond. A / B / F | ||||||
| 推拉力測試 | MIL-STD-883 / Method 2019 | ||||||
| 溫度係數測試 | EIA-198 / Method 105 (B) | ||||||
| 浸漬測試 | MIL-STD-202 / Method 104 Cond. A / B | ||||||
| 耐濕測試 | MIL-STD-202 / Method 106 | ||||||
| 使用壽命測試 | MIL-PRF-49464 / par. 4.8.13 | ||||||
| 耐振動測試 | MIL-STD-202 / Method 201 | ||||||
| 高頻振動測試 | MIL-STD-202 / Method 204 Cond. A / D | ||||||
| 變頻振動測試 | MIL-STD-883 / Method 2007 Cond. A | ||||||
本公司考量客戶之各類需求進而開發三種基本類型(A、B、C類型)。
在了解客戶的安裝及使用環境後，探討客戶要求的電性特性能否符 合物理與電性參數， 提供最適合之解決方案。
| A型 | B型 | C型 | |
| 表面 | 留邊＿ | 留邊＿ | 全面鍍金＿ |
| 裏面 | 全面鍍金＿ | 留邊＿ | 全面鍍金＿ |
| 製品 | A型 | B型 | C型 |
| 單層電容(ClassⅠ&ClassⅡ) | ◯ | ◯ | ◯ |
| 單層電容(ClassⅣ) | ◯ | ◯ | |
| 長方形電容 | ◯ | ||
| 陣列電容 | ◯ | ◯ | |
| 雙極電容 | ◯ | ◯ | |
| 多連結電容 | ◯ | ||
| IRC 一體化電容電阻 | ◯ | ||
| 薄膜晶片電阻 | ◯ | ||
| Ground Blocks | ◯ |
若需客製商品請直接向本公司洽詢。
涵蓋等級1到等級4的材料，顧客可以依據用途選擇適合的產品。
| EIA 等級*2 |
捷科泰亞 介電質材料 代號 |
K (Nominal) |
導電耗散率 @25℃ |
阻抗測試 @25℃ |
EIA TC Code*2 |
溫度特性 | 耐用溫度範圍 |
| 1 | P | 40 | < 0.15% @ 1 MHz | 106MΩ | C0G | 0 ± 30 ppm / °C | -55 °C to +125 °C |
| 1 | 4 | 90 | < 0.25% @ 1 MHz | 106MΩ | S2H | -330 ± 60 ppm / °C | -55 °C to +125 °C |
| 1 | 5 | 140 | < 0.25% @ 1 MHz | 106MΩ | U2J | -750 ± 120 ppm / °C | -55 °C to +125 °C |
| 1 | 7 | 280 | < 0.25% @ 1 MHz | 105MΩ*1 | M3K | -1000 ± 250 ppm / °C | -55 °C to +125 °C |
| 2 | F | 1,600 | < 2.5% @ 1 kHz | 105MΩ | X7R | ± 15% | -55 °C to +125 °C |
| 2 | C | 2,800 | < 2.5% @ 1 kHz | 105MΩ | X7R | ± 15% | -55 °C to +125 °C |
| 2 | J | 4,200 | < 2.5% @ 1 kHz | 105MΩ | X7R | ± 15% | -55 °C to +125 °C |
| 4 | 10 | 16,000 | < 2.5% @ 1 kHz | 104MΩ | X7S | ± 22% | -55 °C to +125 °C |
| 4 | 11 | 30,000 | < 2.5% @ 1 kHz | 104MΩ | X7S | ± 22% | -55 °C to +125 °C |
| 4 | 12 | 50,000 | < 2.5% @ 1 kHz | 104MΩ | X7S | ± 22% | -55 °C to +125 °C |
*1 客製品可達到106MΩ@25℃。
*2 請參照EIA-198-1-F。
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AuSn（金錫焊點）可以被放入任何A型（表層留邊）或C型（沒有留邊）電容，更快更簡單地做出eutectic 製程。
可以透過底面不鍍金來降低整體成本，但會使電容只能用銀膠連接。
除標準包裝方式以外，並可視產品種類追加包裝材保護製品。
| 材質 | 顏色 | 大小 | |
| Waffle Pack | ABS | White/Natural | 2 inch |
| 材質 | 顏色 | 大小 | |
| Waffle Pack* | ABS/PC/PP** | Black | 2 inch |
| Blue tape(w/Ring) | PVC | Blue | Φ 6 inch |
| Blue tape(w/Ring) | PVC | Blue | 7.87 inch |
*如果您有指定Tray的大小，請與我們聯絡。
**導電性／防靜電材質等級
產品：符合歐盟RoHS指令。
包材：符合歐盟容器包裝及容器包裝廢棄物相關之指令。
| 保固期 | 交貨後1年 *2 | |
| 保存環境 *1 | TRAY包裝 | 温度+13 ～ +33℃ 溼度60%RH以下 |
| 藍膜包裝（UV膜除外） | 温度+20 ～ +26℃ 溼度60%RH以下 | |
*1 請勿儲藏於可能曝露於直射日光、振動、撞擊、腐蝕性氣體、其他特殊氣體、凍結、露水、及塵埃過多的環境下。
也請避免在未戴手套的情形下觸摸產品。
*2 有關藍膜包裝的保固期為出貨後3個月。
使用AuSn等焊接材料接合的情況下，建議使用在接合面有Pt或NiCr等材料構成 Barrier Layer 的產品。
接合時若使用過多接合材料，可能會造成側面接觸不良。
另外，裝設時若裝設環境不適當可能造成斷裂或毀損，購買前請先確認各自裝設環境及設備。
| ・使用焊線 | φ 30um以下的Au焊線 |
| ・接合溫度 （補充事項） |
楔型接合 ： 200～270℃ 球型接合 ： 150～250℃ 建議可與電燒筆合併使用 |
| ・接合方式 | 熱壓著或超音波熱壓著 |
| ・注意事項 | 接合時請與電極保持25um以上的距離。 另外，使用硬質焊線進行接合時，若用力不當， 可能造成陶瓷材料表面受損或電極剝落，請先確認各自裝設環境及設備，進行調整。 |
02-2955-5135
營業時間：8:30-17:30
